石油天然气、冶金、电力、纸浆和造纸、制药以及其他工业、将先进的产品与技术集成到特定工业的工程

公司资讯

雷达物位计的测量原理与测量条件

发布时间:2019/4/15

   测量原理

调频连续波雷达物位计在测量过程中应用了按照线性变化的高频信号,雷达物位计的信号从天线发出,在被测量平面反射,回波被天线接收。雷达物位计信号的发出与回波接收的频率差被用于进一步的信号处理,频率差对应于测量距离。一个大的频率差应对于一个较大的测量距离。通过FFT频率差被转化为频谱差,进而换算出测量距离。物位与测量距离的差别取决于空罐的高度。发射能量很低的极短的微波脉冲通过天线系统发射并接收。

即使工况比较复杂的情况下,存在虚假回波,用最新的微处理技术和调试软件也可以准确的分析出物位的回波。输入天线接收反射的微波脉冲并将其传输给电子线路:

D=C×T/2

其中C为光速

因空罐的距离E已知,则物位L为:

L=E-D

输出

通过输入空罐高度E(=零点),满罐高度F(=满量程)及一些应用参数来设定,应用参数将

自动使仪表适应测量环境。

对应于4-20mA输出。

测量条件

注意事项

  • 测量范围从波束触及罐低的那一点开始计算,但在特殊情况下,若罐低为凹型或锥形,当物位低于此点时无法进行测量。
  • 若介质为低介电常数当其处于低液位时,罐低可见,此时为保证测量精度,建议将零点定在低高度为C 的位置。
  • 理论上测量达到天线尖端的位置是可能的,但是考虑到及粘附的影响,测量范围的终值应距离天线的尖端至少100mm。
  • 对于过溢保护,可定义一段安全距离附加在盲区上。
  • 最小测量范围与天线有关。
  • 随浓度不同,泡沫既可以吸收微波,又可以将其反射,但在一定的条件下是可以进行测量的。